Design for Testability

Designtechniken, mit denen Testbarkeitsmerkmale zu einem Hardware-Produktdesign integriert werden.

Unter dem Begriff Design for Testability (DFT) versteht man Designtechniken mit denen Testbarkeitsmerkmale zu einem Hardware-Produktdesign integriert werden.

Ziel der verschiedenen Testverfahren ist es, Herstellungsfehler auszuschließen und so die korrekte Funktion und Qualität des Produkts zu gewährleisten.
Die Testanforderungen werden dabei bereits in der Entwicklungsphase festgelegt.

Melecs interne Design Richtlinien

In der Entwicklungsphase decken unsere Design-Richtlinien folgende Parameter ab:

optimierte Prüftiefe
zuverlässige Adaption
Reduzierung der Prüfzeit und den damit verbundenen Kosten
Prüf-Konzepterstellung in Abhängigkeit der zu erwartenden Jahresstückzahl (1.000 Stk/Jahr Vs. 1.000.000 Stk/Jahr)

Unterschiedlichste Testverfahren

Um nun Ihr Serienprodukt erfolgreich in großer Menge und geforderter Qualität produzieren zu können, testen wir die Baugruppen vor der Auslieferung eingehend. Ein Experten-Team aus 15 Test-Ingenieuren prüfen daher Ihre Baugruppen auf „Herz und Nieren“.
Je nach Anforderung kommen unterschiedliche Testverfahren und Vorgehensweisen zum Einsatz.

Optische Prüfung – Automatische Optische Inspektion (AOI): Bei diesem Testverfahren wird mit Hilfe eines Baugruppen spezifischen AOI Programmes die korrekte Bestückung geprüft. Auf diese Weise können neben der Beurteilung der Lötqualität auch verpolt und falsch bestückte Bauteile ausfindig gemacht werden.
Elektrische Funktionstest (FKT): Dieser wird zur Beurteilung der elektrischen Funktionalität der Baugruppe herangezogen. Er werden bereits in der Entwicklungsphase Prüftechnik Ingenieure ins Projekteam miteingebunden um eine möglichst hohe Testabdeckung für die Serienfertigung zu erreichen.
In-Circuit-Test (ICT) Bauteil Test
End-of-Line Tests (EOL), die speziell für die Baugruppe angefertigt sind
Open IC Probes , welche nicht verlötete Pins bei ICs erkennen
kapazitive Probes für die Erkennung von verpolten Kondensatoren
Boundary Scan Test
Optische LED Tests

Prüfadapter

Prüfadapter sind das Bindeglied zwischen Testvorrichtung und dem individuellem Prüfobjekt, der jeweiligen Baugruppe. Zur Anwendung kommen dabei abhängig von der zu erwartenden Jahresstückzahl Prüfadapter, wie bspw.:

mechanische Adapter (Zukauf über ATX Hardware GmbH oder in-house Anfertigung)
pneumatische Adapter
2-fach Tandemadapter für noch kurze Taktzeiten und dadurch geringere Prüfkosten in der Serie
Kontaktierung über im Layout ausgeführte Testpunkte und/oder Steckverbinder

Prüfzeit und Kosteneinsparung

Um die Prüfzeit und dadurch auch Kosten für die Serienfertigung einzusparen, wird Hochleistungs-Programmierequipment verwendet, welches kurze Programmierzeiten gewährleistet.Ebenso benutzen wir kalibrierte und standardisierte Testsystemen, wie bspw. Digitaltest oder Reinhardt Testsysteme. Auf diese Weise sichern wir zu 100% die Rückverfolgbarkeit der Testergebnisse sowie umfangreiche Optionen für das Datenlogging.

Typischer Projektablauf

Die Entwicklung eines Prüfadapters erfolgt IMMER spezifisch je nach Baugruppe und Kundenanforderungen.

07.03.22

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